透射電鏡測試

透射電鏡測試

中科檢測具備透射電鏡測試資質(zhì)能力，可以出具CMA、CNAS檢測報告。

透射電鏡 測試介紹

透射電鏡，全稱透射電子顯微鏡（TEM），是一種利用電子束作為光源的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。透射電鏡通過加速和聚焦電子束穿透非常薄的樣品，電子與樣品中的原子碰撞后改變方向，產(chǎn)生立體角散射。

透射電鏡可以用來觀察化學(xué)反應(yīng)中的原子和分子的結(jié)構(gòu)變化。通過透射電鏡,我們可以直接觀察到原子和分子在反應(yīng)中的位置和空間排列方式的變化。

中科檢測具備透射電鏡測試資質(zhì)能力，可以出具CMA、CNAS檢測報告。

透射電鏡測試 服務(wù)內(nèi)容

1、成分分析：透射電鏡可以通過觀察透射電子的吸收和散射情況，來確定樣品的成分。利用不同化學(xué)物質(zhì)對電子的散射和吸收的差異，可以獲得樣品的能譜圖像，進而分析樣品中的元素種類和含量。

2、形貌觀察：透射電鏡還可以用來觀察化學(xué)物質(zhì)的形貌。通過調(diào)節(jié)電子束的聚焦和透射模式，可以觀察到樣品的表面形貌以及微觀結(jié)構(gòu)，如納米顆粒、薄膜厚度等。

3、結(jié)構(gòu)研究：透射電鏡可以用來研究材料的晶體結(jié)構(gòu)和外形。通過觀察透射的電子的衍射圖案，可以確定晶體的晶胞參數(shù)、晶面指數(shù)等信息。同時，透射電鏡還可以觀察到有關(guān)晶格缺陷、原子排列和晶界等結(jié)構(gòu)信息。

透射電鏡 測試標準

 GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

 GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法

 YS/T 1623-2023 鋁合金時效析出相的檢驗 透射電鏡法